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          光學篩選機

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          晶體顆粒高速檢測機

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          • 顆粒狀物料雜質缺陷高速分選機
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          顆粒狀物料雜質缺陷高速分選機

          類別:晶體顆粒高速檢測機

          簡介:顆粒狀物料雜質缺陷高速分選機,高速線掃相機檢測,輸送帶檢測機臺

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          • 產品介紹

          CCD高速檢測分選機可以實現對顆粒狀、粉末狀等物體雜質混料檢測分選,分選速度快,檢測精度高,篩選干凈,特別適用于晶體、礦物質、金屬顆粒等行業的檢測分選。

          可根據行業產量需要,靈活選用高速、中速、低速檢測機型,適應不同產量的需求。

          設備簡介:設備采用振動料斗快速上料,工業相機快速檢測,一旦發現雜質或者次品或者混料,達到剔除工位將會自動剔除,效率較高,技術上屬于國內首創。



          采用高速先掃描相機

          輸送帶式檢測機臺

          長度3米

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